Световая и электронная микроскопия

Недостатки световой микроскопии перед электронной. Принцип действия электронного микроскопа. Ограничения электронного микроскопа

Сравнение электронного и светового микроскопов

Рис. 11. Электронный микроскоп

Принцип ЭМ. В качестве источника электронных лучей применяют электронную пушку, основой которой служит вольфрамовая нить, нагретая электрическим током (рис. 12). Электронные лучи обладают малой длиной волны. Прохождение электронных лучей в вакууме через электромагнитные поля, создаваемые электромагнитными линзами, концентрирует и направляет электронный поток. Это обеспечивает резкое повышение разрешающей способности электронного микроскопа до 0,2 нм и увеличение до 10 9 .

Многие сенсорные ощущения атомного силового микроскопа

В этом режиме измерения можно, среди прочего, изучить явление трения в наименьшем масштабе. Пока еще далеко не ясно, что происходит на атомном и молекулярном уровне, например, когда автомобильная шина скользит по дороге. Однако контактный режим также имеет недостатки: как зонд, так и образец могут быть повреждены. Кроме того, невозможно таким образом ощущать отдельные атомы, поскольку контактная поверхность образца и зонда обычно состоит из многих атомов.

Обнаружение одиночных атомов в «бесконтактном режиме»

Одним из решений этой проблемы было развитие динамического атомно-силового микроскопа. В этом микроскопе кантилевер вибрирует с помощью зонда. Когда вибрирующий зонд приближается к образцу, частота колебаний кантилевера изменяется. Это происходит, даже если зонд все еще вибрирует над образцом, поэтому он не касается. Зонд снова удаляется с поверхности образца в каждой точке измерения до тех пор, пока не будет установлена ​​постоянная частота колебаний.

В трансмиссионных (просвечивающих) электронных микроскопах электроны проходят через образец, затем собираются и фокусируются электромагнитными линзами. Электроны невидимы для глаза, в связи с этим они направляются на флюоресцентный экран, который воспроизводит видимое плоскостное изображение, или на фотоплёнку, чтобы получить постоянный снимок (электронную микрофотографию).

Подобно сканирующему туннельному микроскопу, атомный силовой микроскоп также способен измерять не только топографию поверхности, но и различные свойства материала: магнетизм, электропроводность, механическую твердость, эластичность или адгезию и многое другое.

Магнитная сила микроскопа

В частности, для изучения эластичности и адгезии материала используется так называемый «режим нарезания резьбы», в котором вибрационный зонд слегка касается поверхности с каждым колебанием.

Магнитный силовой микроскоп представляет собой атомно-силовой микроскоп с магнитным зондом. При таком расположении могут быть обнаружены магнитные поля размером менее десятитысячной миллиметра. Отдельные атомы не могут быть обнаружены магнитным силовым микроскопом, потому что магнитные силы имеют слишком большой диапазон.

Проходя через объект, части которого имеют различную толщину, электроны больше или меньше задерживаются, а объект приобретает контрастность. Создаёт изображение только та часть электронов, которая проходит через объект и попадает на экран микроскопа. Участки клеток, слабо рассеивающие электроны, выглядят на экране светлыми, а участки, сильно рассеивающие электроны, – тёмными (рис. 13).

Поэтому магнитный зонд в основном воспринимает несколько атомов одновременно. Поскольку токопроводящие электрические линии окружены магнитным полем, также предпринимается попытка использовать магнитный силовой микроскоп для измерения токов на крошечных проводниках компьютерных микросхем.

Сетка емкость микроскопа

Сканирующий емкостной микроскоп измеряет распределение электрических зарядов. На самом деле это что-то вроде самого конденсатора. Электродами конденсатора являются, с одной стороны, наконечник зонда, а с другой стороны — образец. Микроскопы сканирующей емкости приобретают все большее значение, прежде всего для индустрии чипов. На компьютерах современных компьютеров несколько миллионов транзисторов можно найти на площади около одного квадратного сантиметра. Микроскоп с растровой емкостью не только делает эти крошечные электронные компоненты видимыми, но и смотрит на них.

В сканирующих электронных микроскопах пучок электронов фокусируется в тонком зонде и им сканируют образец, а отраженные от поверхности образца электроны собираются и формируют на экране объёмное изображение (рис. 14-17). При сканирующей электронной микроскопии изучают поверхность различных объектов, напыляя на них в вакуумной камере электронно-плотные вещества, и исследуют реплики, повторяющие контуры образца.

Атомно-силовые микроскопы как инструмент

Транзистор состоит из разных областей с различными электронными свойствами. Сканирующий емкостной микроскоп может ощущать эти свойства материала с точностью более одной десятитысячной миллиметра. Атомно-силовой микроскоп также предлагает совершенно новые возможности для химии и биологии: можно присоединить отдельные молекулы между поверхностью и зондом атомно-силового микроскопа. Силовой микроскоп можно использовать для определения силы, необходимой для разрыва молекулы. Такой эксперимент позволяет измерять химическую энергию связи на одной молекуле.

Читайте также:  Аевит инструкция по применению показания, противопоказания, побочное действие – описание Aevit капс

Рис.13. ВИЧ в трансмиссионном электронном микроскопе

Рис. 14. ВИЧ

Атомные силовые микроскопы также служат в качестве инструмента для записи. Вы можете вырезать мельчайшие структуры на поверхность. Для записи зондов нагревают, чтобы расплавить небольшой паз в памяти данных. Для считывания данных используется тот факт, что слегка нагретый зонд быстрее теряет тепло в таком «отверстии данных», чем снаружи.

Краткое введение в микроскопию. Целью микроскопии является представление структур и деталей, которые слишком малы для разрешения человеческого глаза. Существуют различные типы микроскопии. Световая микроскопия: при световой микроскопии свет поглощается, дифрагируется, преломляется или отражается объектом. По меньшей мере две системы линз затем приводят к увеличенному изображению. Разрешение зависит от длины волны света.

Рис. 15. Trichomonas vaginalis в сканирующем электронном микроскопе

Рис. 16. Staphylococcus aureus в сканирующем электронном микроскопе

Рис. 17. Макрофаги и фагоцитируемые ими

Флуоресцентная микроскопия: флуоресцентная микроскопия является частью световой микроскопии. Флуоресцентное вещество в образце возбуждается, чтобы испускать свет соответствующей длины волны. Люминесцентные красители излучают свет. Испускаемый свет всегда длиннее длины волны, чем стимулирующий свет. В пучке луч света флуоресцентный свет может быть отделен от возбуждающего света оптическими фильтрами, а затем направлен в окуляр или в камеру. Предел разрешения флуоресцентного микроскопа может быть намного ниже предела разрешения светового микроскопа, благодаря чему внутриклеточные структуры могут быть локализованы очень точно.

E. coli в сканирующем электронном микроскопе

Преимущества электронной микроскопии:

· высокая разрешающая способность электронного микроскопа позволяет наблюдать объекты, размеры которых лежат за пределами разрешающей способности светового микроскопа. По этой причине ЭМ применяется для изучения ультраструктур микроорганизмов и макромолекулярных структур;

Процессы в живых клетках могут быть изучены очень хорошо. Конфокальная микроскопия. Это специальная форма световой или флуоресцентной микроскопии, в которой тонкие оптические секции собраны в трехмерное изображение. Поскольку все разрезы визуально «острые», создается тщательно сфокусированное трехмерное изображение.

Электронная микроскопия. Электронная микроскопия использует электронные пучки вместо света. Поскольку они имеют значительно более короткую длину волны, чем видимый свет, достигается более высокое разрешение. Существуют различные методы электронной микроскопии.

· сочетание ЭМ с другими методами позволяет проводить электронно-радиоавтографические, электронно-гистохимические, электронно-иммунологические исследования. ЭМ нашла широкое применение в морфологии, микробиологии, вирусологии, иммунологии, генетике, биохимии, онкологии.

Сравнение электронного и светового микроскопов — понятие и виды. Классификация и особенности категории «Сравнение электронного и светового микроскопов» 2014, 2015.

Передаточная электронная микроскопия: здесь тонкий объект облучается электронами. Это соответствует проходящей световой микроскопии, в которой поглощение в основном играет роль. В настоящее время разрешение составляет около 0, 05 нм. Сканирующая электронная микроскопия, сканирующая электронная микроскопия: электронный луч направляется по образцу, осажденному золотом, по определенной схеме. Вторичные электроны, испускаемые с поверхности объекта, измеряются и преобразуются в оптическое изображение.

Для достижения невозмущенного электронного пучка измерение проводят в высоком вакууме. Атомно-силовая микроскопия, атомно-силовая микроскопия: этот метод используется для поверхностного изображения. С прикрепленной к листовой пружине «атомной» иглой образец сканируется в определенной сетке. Атомные силы удерживают расстояние до поверхности постоянной. Отклонение листовой пружины регистрируется отражением лазерного излучения с помощью оптических датчиков и отображается линейно.

Микроскоп — устройство, которое позволяет видеть увеличенное изображение объектов и структур, которые не видны глазу человека. В медико-биологических исследованиях используются световые и электронные методы микроскопии. , основанные на световой технологии, позволяют увеличивать объекты от 0.5 микрометров с разрешением объектов до 0.1 микрометра больше чем в 1500 раз. Микроскопы, основанные на электронной технологии — до 20 000 раз.
Технология световой микроскопии базируется на фундаментальных законах оптики, а так же на волновой теории в образовании изображений. Для освещения используют естественный, либо искусственный источники света. Первые простые микроскопы появились еще в 17-м веке. Более высоких успехов в их разработке смог добиться ученый из Голландии, А. Левенгук. В период с 1609 по 1610 гг. Г. Галилеем был построен более сложный микроскоп. В 1846 г. немецкий инженер-механик К. Цейсе открыл свою мастерскую и, примерно через год, начал изготавливать микроскопы. Цейс в своей фирме успешно использовал научные открытия профессора по физике Эрнста Аббе, который позже становится полноправным компаньоном Цейса. Теоретические и практические работы Э. Аббе, О. Шотта и А. Келера определили направления в развитии и принципы строения оптических систем в современных микроскопах.

Читайте также:  Эозинофилы - общий анализ крови

Сканирующая туннельная микроскопия. При сканирующей туннельной микроскопии поверхности отображаются путем измерения тока между электропроводящим наконечником и одинаково проводящим образцом. Неэлектрически проводящие образцы должны быть осаждены на паровой основе с помощью золота, графита или хрома.

Опять же, наконечник ориентируется по объекту в определенной сетке. В классической фотонной микроскопии ткань должна быть тонко разрезана для исследования, а чем тоньше она, тем резче изображение; но с этим методом трехмерная информация теряется во время разреза. Если толстый образец наблюдается под фотонным микроскопом, фокусируемое изображение загрязняется суперпозицией элементов ткани, которые находятся вне фокуса, как выше, так и ниже фокусированной плоскости; сфокусированное изображение ухудшается из-за размытых или несфокусированных перекрывающихся структур.

Электронная микроскопия

Технология электронной микроскопии позволяет получать электронно-оптическое изображение при помощи потока электронов. Построение изображений базируется на фундаментальных законах волновой и геометрической оптики, а так же теории электромагнитного поля. Технология электронной микроскопии дает возможности для исследования объектов, у которых размеры лежат за пределами разрешающих возможностей светового микроскопа, а именно — объекты, менее 0.2 микрометров, и находит свое применение в изучении вирусов, бактериофагов, тонкого клеточного строения и других микрообъектов. Также такие микроскопы с успехом применяются для изучения макромолекулярных структур.
Очень важно не путать электронный микроскоп и цифровой микроскоп. В последнее время многие ошибочно называют — электронными микроскопами. На самом же деле, это не так. Микроскоп с электронной технологией появился в конце 30-х годов. Серийным запуском электронных микроскопов занялась фирма немецкого происхождения «SIEMENS». В 1940 году в ГОИ имени С. И. Вавилова, находящимся в Ленинграде, создали первый отечественный микроскоп с электронной технологией, увеличительные способности которого достигали 10000 крат. Микроскопы с электронной технологией используются, в основном, в научно-исследовательских лабораторных комплексах, для серьезных научных разработок. Минимальная стоимость таких изделий начинается примерно с двух-трех миллионов рублей.

С помощью конфокального микроскопа эти ограничения были преодолены, поскольку это инструмент, который позволяет делать мелкие оптические срезы для образцов более или менее грубых тканей и выполнять реконструкции в трех измерениях от серийных разрезов. Его механизм, основанный на флуоресцентном микроскопе, позволяет получать изображения трехмерной архитектуры клеток и тканей.

Детали оптики конфокального микроскопа сложны и дополняются электронными и вычислительными методами, этот инструмент позволяет фокусировать только определенную плоскость образца, устраняя свет, исходящий из областей, которые не находятся в плоскости фокуса.

Микроскопы для пайки используются в тех случаях, когда необходимо выявить трещины в материнских платах, микросхемах, в теле- и радиоаппаратуре, мобильных телефонах, ювелирных изделиях. Словом, он нужен для определения мельчайших дефектов, которые не видны невооруженным глазом. Очень часто ими пользуются сервисные центры по ремонту компьютеров, цифровой техники.

Рисунок 6-25. — Сравнение двух микрофотографий клетки в митозе, контрастирующих с двойной флуоресцентной меткой, как для хромосом, так и для актина. Слева находится изображение, в котором глубина поля покрывает практически всю толщину ячейки, и, следовательно, изображение выглядит немного размытым, несмотря на то, что оно сфокусировано. Справа видно изображение, полученное с конфокальным принципом, состоящим из оптического участка ячейки, в котором захватывается флуоресценция, которая исходит исключительно из структур, находящихся в плоскости фокуса, получая более четкое изображение.

Все дети по существу своему очень любопытны, благодаря чему они всегда стремятся узнавать что-то новое. Познавая мир, проявляя живой интерес ко всему окружающему, ребенок активно растет и всесторонне развивается. Маленькие «почемучки» желают знать все: «почему муравьи маленькие», «какие капельки водички», «почему жужжит пчела» и еще тысячу разных «почему».

Взято из лазерной сканирующей конфокальной микроскопии. Группа технологий обработки изображений. Этот микроскоп очень успешный в научном мире благодаря высокому качеству изображений, которые он предоставляет от образцов, приготовленных с использованием обычных лабораторных методов флуоресцентной микроскопии и, конечно, растущего числа применений.

Преимущества конфокального микроскопа. Использование флуоресценции. Фокусируется только на одной плоскости образца. Он устраняет информацию, поступающую из других несфокусированных плоскостей образца. Получение последовательных оптических разрезов из образцов с определенной толщиной или чей тонкий срез затруднен.

Преимущество световой микроскопии перед электронной

Время чтения: мин.

На сегодняшний день уже давно доказано преимущество световой микроскопии перед электронной. Именно световая микроскопия способна увеличить изображение в 2-3 тыс. раза. К преимуществам также стоит отнести:

  • получение цветного и подвижного изображения движущегося объекта;
  • возможность делать микрокиносъёмку;
  • долгое наблюдение за одним и тем же объектом;
  • возможность оценивать динамику и химизм элементов.
Читайте также:  Зеленый чай при геморрое 5 лечебных свойств и 8 полезных советов

Очень часто в области репродуктологии применяется электронно микроскопическое исследование спермы, при этом получить больше детальной информации можно с помощью световой микроскопии.

К самым важным преимуществам относят разрешающую способность, контрастность и другие показатели.

Разрешающая способность

Этот параметр указывает минимальное расстояние, на котором размещаются две точки, показываемые прибором раздельно.

Контрастность картинки

Этим параметром обозначается различие яркости и фона изображения. По этому показателю можно оценить, каково преимущество использования световой микроскопии перед электронной. На контрастность оказывают влияние свойства объекта, изменяющие световой поток и способность оптики уловить эти изменения.

Получите на почту 5 аналогов анализа ЭМИС с более высокой эффективностью.

Увеличительные способности

В современных моделях эта способность может достигать до 2000. При большем показатели разрешающая способность лучше не будет, это также касается ухудшения изображения.

Числовая апертура

Данный показатель также берётся во внимание, его используют для определения разрешающей возможности оптической системы прибора.

Светосила объектива

Этим параметром определяется интенсивность света, которая необходима для освещения единицы площади картинки.

Несмотря на то, каково преимущество световой микроскопии перед электронной, возможности такого прибора ограничиваются за счёт волной природой света. В зависимости от того, какие свойства исследуемого объекта, наблюдаются такие влияния:

  • цвет зависит от длины волны;
  • яркость – от её амплитуды;
  • также изменяются: фаза, плотность и направление волны.

В современных устройствах эти параметры учитываются, поэтому можно создавать подходящий контраст.

Сейчас большим успехом пользуется современное оборудование, работающее на основе электроники, но не всегда можно получить более точные данные определенного объекта, в частности это касается устройств для лабораторных исследований. Исходя из этого, многие научные и исследовательские центры отдают предпочтение световой микроскопии, считая её более достоверной.

Сравнение электронного и светового микроскопов

Принцип ЭМ. В качестве источника электронных лучей применяют электронную пушку, основой которой служит вольфрамовая нить, нагретая электрическим током (рис. 12).

Рис. 12. Схема электронного микроскопа

Электронные лучи обладают малой длиной волны. Прохождение электронных лучей в вакууме через электромагнитные поля, создаваемые электромагнитными линзами, концентрирует и направляет электронный поток. Это обеспечивает резкое повышение разрешающей способности электронного микроскопа до 0,2 нм и увеличение до 10 9 .

В трансмиссионных (просвечивающих) электронных микроскопах электроны проходят через образец, затем собираются и фокусируются электромагнитными линзами. Электроны невидимы для глаза, поэтому они направляются на флюоресцентный экран, который воспроизводит видимое плоскостное изображение, или на фотоплёнку, чтобы получить постоянный снимок (электронную микрофотографию).

Рис. 11. Электронный микроскоп

Проходя через объект, части которого имеют различную толщину, электроны больше или меньше задерживаются, а объект приобретает контрастность. Создаёт изображение только та часть электронов, которая проходит через объект и попадает на экран микроскопа. Участки клеток, слабо рассеивающие электроны, выглядят на экране светлыми, а участки, сильно рассеивающие электроны, – тёмными (рис. 13).

Рис.13. ВИЧ в трансмиссионном электронном микроскопе

В сканирующих электронных микроскопах пучок электронов фокусируется в тонком зонде и им сканируют образец, а отраженные от поверхности образца электроны собираются и формируют на экране объемное изображение (рис. 14-17). При сканирующей электронной микроскопии изучают поверхность различных объектов, напыляя на них в вакуумной камере электронно-плотные вещества, и исследуют реплики, повторяющие контуры образца.

Рис. 14. ВИЧ в сканирующем электронном микроскопе

Рис. 15. Trichomonas vaginalis в сканирующем электронном микроскопе

Рис. 16. Staphylococcus aureus в сканирующем электронном микроскопе

Рис. 17. Макрофаги и фагоцитируемые ими

Параметр Электронный микроскоп Световой микроскоп
Источник излучения электроны свет
Длина волны 0,005 нм 400-700 нм
Максимальное полезное увеличение х2500 х1500
Максимальное разрешение 0,2 нм 200 нм
Линзы электромагниты стеклянные
Объект не живой, обезвоженный, маленький или тонкий живой или неживой
Красители содержат цветные металлы, которые отражают электроны цветные

Преимущества электронной микроскопии:

· высокая разрешающая способность электронного микроскопа позволяет наблюдать объекты, размеры которых лежат за пределами разрешающей способности светового микроскопа. Поэтому ЭМ применяется для изучения ультраструктур микроорганизмов и макромолекулярных структур;

· сочетание ЭМ с другими методами позволяет проводить электронно-радиоавтографические, электронно-гистохимические, электронно-иммунологические исследования. ЭМ нашла широкое применение в морфологии, микробиологии, вирусологии, иммунологии, генетике, биохимии, онкологии.

Дата добавления: 2015-02-23 ; просмотров: 7802 ; ЗАКАЗАТЬ НАПИСАНИЕ РАБОТЫ

Ссылка на основную публикацию
Свекла при беременности чем полезна, можно ли пить сок из свеклы
Свекла при беременности: польза и вред, правила употребления Польза для беременных Потенциальный вред и противопоказания Как употреблять правильно? Секреты выбора...
Самые красивые, известные еврейки и иудейки России — Уголок настоящего человека — LiveJournal
sayanarus ТАМ ЧУДЕСА,ТАМ ЛЕШИЙ БРОДИТ,, Recent Entries Friends Archive Profile Add to friends RSS Красивые и известные еврейки России Надежда...
Самые лучшие дешевые мази и кремы от аллергии на коже у взрослых
Аллергия на коже: лечение, симптомы Кожная аллергия - это повышенная реакция кожи, которая возникает вследствие контакта с аллергеном. Наиболее распространенными...
Свекла при диабете Журнал Сахарок — все о диабете
Можно или нет кушать свеклу людям при диабете 2 типа Сахарный диабет (СД) – это достаточно серьезный недуг, который требует...
Adblock detector